方案概述
存儲芯片測試方案概述
加速科技推出的250Mbps高性能數字混合信號測試系統，對于市場上EEPROM、中小容量NOR Flash，及嵌入式存儲器有著良好的支持。合適的DIO通道與電源、高壓源配比及模塊化的資源，使得多site擴展簡單易行。高容量向量深度，可滿足中小容量存儲芯片的存儲功能測試。系統、各模塊間高速通信帶寬，算法硬件調度，可有效提升測試效率。
方案介紹
核心優勢
CORE ADVANTAGES
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